漫反射是分析粉末狀和固體樣品的高靈敏度技術。 通常，將樣品用KBr研磨成細粉，然後不需製成顆粒即可測量。此為針對粉末或是表面不均勻的薄膜，亦或是前處理上相對比較困難的固體所設計的分析配件。
1. 需與KBr混合研磨成細粉，惟不再需要壓片。 2. 可同時放置背景與待測樣品。 3. 適用於單一或多種粉末混和的樣品，例如：藥錠、漆料、聚合物。 4. 高感度的光學設計，提供 ng級的偵測感度。
可進行藥物、無機固體、礦物及化學粉末藥品之分析。
1. 基礎型漫反射附件 2. 進階型漫反射附件 3. 上置型漫反射附件
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