多點式反射HATR 附件

2021/11/26

HATR附件特點

- 優越的能量輸出，提供高訊雜比(signal-to-noise ratio) 及圖譜品質
- 高達20次的樣品內部反射 (internal reflection) ，低樣品濃度也能具有高感度
- 拆卸式的晶體，具有對準位置，方便快速精準的切換及清潔
-多種晶體選擇如ZnSe, KRS-5, Ge, AMTIR或 Si crystal，且可選擇入射角度 (face angles) 以調整最佳樣品入射深度
- In-compartment (HATR) 及out-of-compartment (HATRPlus)兩種光學底座供選擇，取決於樣品的大小

HATR附件介紹

HATR附件固定且具重複性的有效光徑長，適合定性及定量應用。其高靈敏度的特色，尤其適合應用於低濃度的樣品。只需要將樣品放在 HATR 晶體上便可以進行量測，完全不需要通常進行樣品製備。

in-compartment設計

圖1. 利用HATR凹槽式晶體量測所得之燃料添加劑FTIR圖譜

HATR光學底座選擇

PIKE HATR 產品具有兩種光學底座配置。HATR是in-compartment設計，當樣品大小合適，可放置於樣品倉時適用；而HATRPLUS則是out-of-compartment設計，適用於較大且無法放置於樣品倉的樣品，例如於大樣物品上的塗層、皮膚分析等。

圖2. In-compartment HATR 附件-專用於固體及液體樣品

圖3. Out-of-compartment HATR 附件-專用於液體及極大的樣品

HATR晶體選擇

使用者可快速的更換不同的晶體，PIKE提供凹槽式(trough plate)，平面式(flat plate)及流動式(Flow-Through Cell)的晶體選擇。

圖4. 多種晶體選擇

平面式(flat plate)用於分析固體材料，包含高分子及薄膜樣品。尤其適合體積較大無法放進凹槽式晶體的樣品。這款晶體安裝的位置比周遭金屬的表面更上面一些，能夠讓樣品更好的與晶體接觸。ZnSe及Ge 45度角晶體也具有密封不可拆的類型供選擇，應用於油品或其他低表面張力及非揮發性液體。

圖5. 平面式(flat plate)HATR晶體-適用於固體、高分子聚合物薄膜及塗層等

凹槽式(trough plate)晶體的使用非常簡易，嵌入式的晶體適用於液體、粉末及粘稠樣品，尤其適合須使用有機溶劑清潔的樣品。基本上只需要薄薄的一層樣品於晶體表面，便可以進行量測。若是易揮發的樣品，可使用特製的蓋子，用於蓋著樣品避免樣品揮發。一般上軟性的粉末只要可以與晶體表面有密合，便可以得到非常好的圖譜品質。我們也可以使用壓桿裝置加強樣品與晶體的接觸密合度。只需要將加壓裝置放在鋪滿樣品的凹槽式晶體上，並利用手加壓直到得到滿意的圖譜。