粒徑分析

何謂粒徑分析儀

雷射粒度儀是目前用途最廣泛的一種，其中靜態光散射衍射粒度儀它的粒徑測量範圍廣、適用範圍廣泛、重現性好、測量速度快、操作方便且可實現在線測量，一次測量可以得出多種粒度數據，如體積平均粒徑、粒度曲線、區間粒度分布和累計粒度分布等。主要利用測量雷射通過顆粒時的的光能分布，然後反演算推出粒子粒度分布。 粒度分析儀主要是檢測粒徑分布情況，而粒徑在化學、食品、礦業、林業、農業、保健品、製藥、能源和運輸行業里有重要意義。

粒徑測量通常是通過稱為粒徑分析儀的設備實現的，這些設備基於不同的技術，傳統的方法主要有篩分法、顯微鏡法（高清晰度圖像處理）、布朗運動分析、庫爾特電感應法、重力沉降法、離心沉降法等，這些測試方法操作繁瑣、測試時間較長、不能在線測量等。

顆粒的大小與分佈對產品的特性、加工、品管是非常重要的資訊。一般來說，動態光散射法(DLS)因散射光強度與顆粒尺寸的六次方成正比，對大顆粒非常敏感，適合奈米等級顆粒量測，並可加zeta potential模組測量介面電位；雷射繞射法(Laser Diffraction)範圍廣泛，有濕式及乾式等不同進樣方式，可依樣品種類及需求選擇適合的機型與分散槽種類。